了解 XRF 光谱仪的工作原理

X 射线荧光（XRF）光谱法基于高能 X 射线与材料中原子之间的相互作用。当主 X 射线束激发样品时，其内层电子被激发移位，高能层的电子填补这些空位时会释放出具有特定能量的次级（荧光）X 射线。该能量具有元素特异性。

通过检测这些荧光 X 射线并测量其强度，光谱仪能够识别样品中所含元素并确定其浓度。峰位用于判断元素种类（定性分析），而峰强则在经过标准物质校准后可实现精确的定量分析。这一原理使 XRF 成为矿业、水泥、冶金及众多其他行业中广泛采用的元素分析方法。

尽管光谱仪本身具备高度精确的检测能力，但一致的样品制备对于获得可靠结果至关重要。熔珠质量的波动会引入误差，增加返工率，并降低测量可信度。

在 Navas Instruments，我们拥有专利的熔融制样系统，可通过消除如干燥和铸模等非必要步骤，有效解决这一挑战。我们的设备实现了熔珠过程的自动化，并集成了 LOI/LOF 测量，简化了制备流程，降低了变异性，稳定生产高质量玻璃熔珠。精简的系统设计提升了实验室的工作效率，并可轻松实现整个流程的自动化——包括熔珠操作、触发 XRF 分析、结果获取以及熔珠处置——从而全面提升效率与准确性。

了解我们的先进熔融制样设备如何将 XRF 样品制备转变为更快速、更可靠、并完全自动化的流程，满足现代实验室的需求。