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Português Comprendre le fonctionnement des spectromètres XRF
La spectrométrie de fluorescence X (XRF) repose sur l’interaction entre des rayons X de haute énergie et les atomes d’un matériau. Lorsque le faisceau primaire de rayons X excite un échantillon, des électrons de la couche interne sont déplacés. Des électrons de niveaux d’énergie supérieurs comblent alors ces lacunes, libérant des rayons X secondaires (fluorescents) dont l’énergie est caractéristique de chaque élément.
En détectant ces émissions et en mesurant leur intensité, le spectromètre identifie les éléments présents et détermine leur concentration. La position des pics permet l’identification des éléments (analyse qualitative), tandis que l’intensité des pics — calibrée à l’aide de matériaux de référence certifiés — fournit des résultats quantitatifs précis. Cette approche fait de la XRF une méthode largement adoptée pour l’analyse élémentaire dans les secteurs des mines, du ciment, de la métallurgie et de nombreux autres domaines.
Si le spectromètre fournit une détection précise, une préparation d’échantillons cohérente est essentielle pour garantir des résultats fiables. Une variabilité dans la qualité des pastilles peut entraîner des erreurs, des reprises d’analyse et une perte de confiance dans les mesures.
Chez Navas Instruments, notre fusionneur breveté répond à ce défi en éliminant les étapes inutiles comme le séchage et le moulage. En automatisant la fusion et en intégrant la mesure de la LOI/LOF, notre système simplifie la préparation, réduit la variabilité et produit des pastilles de verre stables et de haute qualité. Son design optimisé améliore la productivité du laboratoire et permet l’automatisation complète du flux de travail — manipulation des pastilles, déclenchement de l’analyse XRF, récupération des résultats et élimination des pastilles — améliorant ainsi l’efficacité et la précision.
