Entendendo Como Funcionam os Espectrômetros de XRF

A espectrometria por fluorescência de raios X (XRF) baseia-se na interação entre raios X de alta energia e os átomos de um material. Quando o feixe primário de raios X excita a amostra, elétrons da camada interna são deslocados. Elétrons de níveis energéticos mais altos então preenchem essas lacunas, liberando raios X secundários (fluorescentes) com energias características de cada elemento.

Ao detectar essas emissões e medir suas intensidades, o espectrômetro identifica quais elementos estão presentes e determina suas concentrações. As posições dos picos indicam a identidade elementar (análise qualitativa), enquanto as intensidades dos picos—calibradas com materiais de referência certificados—fornecem resultados quantitativos precisos. Essa abordagem torna a XRF um método amplamente adotado para análise elementar em setores como mineração, cimento, metalurgia e muitos outros.

Embora o espectrômetro forneça uma detecção precisa, a preparação consistente da amostra é essencial para resultados confiáveis. A variabilidade na qualidade dos pastilhamentos pode introduzir erros, aumentar retrabalho e reduzir a confiabilidade das medições.

Na Navas Instruments, nosso fundidor por fusão patenteado resolve esse desafio ao eliminar etapas desnecessárias como secagem e moldagem. Ao automatizar a fusão da pastilha e integrar a medição de LOI/LOF, nosso sistema simplifica a preparação, reduz a variabilidade e produz pastilhas de vidro estáveis e de alta qualidade. O design otimizado melhora a produtividade do laboratório e permite a automação completa do fluxo de trabalho—manuseio da pastilha, acionamento da análise XRF, recuperação dos resultados e descarte da pastilha—aumentando tanto a eficiência quanto a precisão.

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