准确解析 XRF 数据以实现精确元素分析

当样品暴露于 X 射线下时，其原子会发生响应，内层电子被激发移位。高能层的电子回落至这些空位时，会以荧光 X 射线的形式释放能量。每种元素发射的 X 射线具有特定能量，产生可由光谱仪测量的独特光谱特征。

在实际应用中，XRF 光谱同时提供定性信息（通过峰位识别元素）和定量信息（通过与校准标准比对峰强确定浓度）。这种双重分析能力使 XRF 成为应用最广泛、最具通用性的元素分析技术之一。

XRF 光谱法广泛用于测定固体样品的化学成分。样品被 X 射线源激发后会发射荧光 X 射线，所获得的光谱会在特定能量处显示峰值，这些能量对应不同的元素。通过对比峰强并结合认证参考材料进行校准，实验室可准确测定主量、次量及痕量元素的浓度。

这一过程可确保原材料的精准控制、工业生产中的质量监控，以及科研和法规合规中的可靠结果。然而，与光谱仪本身同等重要的是样品制备的一致性——熔珠质量的波动会直接影响分析精度。

在 Navas Instruments，我们的熔融制样系统从始至终简化了这一流程。其精简设计不仅提升了熔珠制备的可重复性，也可轻松实现整个流程的自动化：熔珠转移、XRF 分析触发、结果获取及熔珠安全处置。我们的系统已支持多款 XRF 光谱仪，并可根据客户需求拓展兼容机型。