تحضير عينات XRF: خطوة مهمة للتحليل الدقيق

يعتمد التحليل الدقيق بالأشعة السينية (XRF) على تحضير العينة بعناية. تقليديًا، يتطلب هذا التحضير سلسلة من الخطوات الدقيقة والمستهلكة للوقت: تجفيف العينات حتى وزن ثابت، مزجها مع الفلكس والإضافات، التحكم في درجات حرارة الصهر، صب الأقراص الزجاجية، وضمان التكرار بين مشغل وآخر. تلعب كل مرحلة دورًا في إنتاج نتائج موثوقة، لكن مجتمعة تشكل سير عمل معقدًا ومعرّضًا للتفاوت.

تحضير مبسّط لعينات XRF مع نافاس إنسترومنتس

تعيد نافاس إنسترومنتس تعريف هذه العملية. يعمل جهاز الصهر الحاصل على براءة اختراع لدينا على إزالة التعقيدات غير الضرورية من خلال دمج الخطوات الأساسية وأتمتتها ضمن سير عمل واحد ومبسط:

لا حاجة لتجفيف العينة — يبدأ التحليل مباشرة باستخدام العينة الخام.
لا حاجة لمرحلة الصب — يتم تكوين الأقراص الزجاجية وجعلها جاهزة دون معالجة إضافية.
قياس LOI/LOF آلي — تُسجّل كل عينة بدقة دون إجراءات إضافية.
إضافة عامل عدم التبلل بشكل مضبوط — يتم إدخال كمية صغيرة مخففة بالماء فقط في نهاية دورة الصهر، بعد تسجيل الوزن النهائي للقرص.

من خلال إزالة الخطوات غير الضرورية، يُقلل الجهاز من الخطأ البشري، ويُحسّن قابلية التكرار، ويُتيح لفريق المختبر التركيز على أعمال ذات قيمة أعلى. والنتيجة مختبر أكثر كفاءة، يتطلب جهدًا أقل في التعامل اليدوي ويُحقق نتائج أكثر موثوقية.

النتيجة النهائية هي أقراص زجاجية متسقة وعالية الجودة لتحليل XRF — يتم إنتاجها بسرعة أكبر، وجهد أقل، وتكلفة أقل.